簡(jiǎn)要描述：多功能掃描探針顯微鏡HR-AFM是一款專(zhuān)業(yè)級(jí)的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀(guān)測(cè)樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)；同時(shí)可對(duì)樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，數(shù)值測(cè)定與分析。
產(chǎn)品型號(hào)：廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2025-01-17訪(fǎng) 問(wèn) 量：4659產(chǎn)品目錄
| 品牌 | 其他品牌 | 儀器種類(lèi) | 原子力顯微鏡 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,制藥/生物制藥 |
HR-AFM多功能掃描探針顯微鏡是一款專(zhuān)業(yè)級(jí)的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀(guān)測(cè)樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)；同時(shí)可對(duì)樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，數(shù)值測(cè)定與分析。
國(guó)內(nèi)生產(chǎn)的HR-AFM原子力顯微鏡
標(biāo)準(zhǔn)工作模式：輕敲模式(Vibration mode)，接觸模式 (Contact mode)，相位成像模式 (Phase imaging)，橫向力模式 (LFM)，力曲線(xiàn)測(cè)試（Force Curve），納米操控 （Nanomanipulation），納米刻蝕 （Nanolithography），力矩陣模式 （Force Mapping），摩擦力測(cè)試 （Friction Mode）
可選工作模式：導(dǎo)電原子力顯微鏡 （C-AFM），磁力顯微鏡（MFM），靜電力顯微鏡（EFM）,掃描電勢(shì)顯微鏡（SKPM）。
多功能掃描探針顯微鏡具有軟件自動(dòng)進(jìn)針功能。通過(guò)軟件控制Z方向馬達(dá)實(shí)現(xiàn)探針自動(dòng)進(jìn)針
X,Y,Z三軸分離的掃描器。
掃描范圍 100×100×17μm
Z軸分辨率0.035nm
樣品臺(tái)尺寸：25mm*25mm*18mm
操作軟件：使用Laview環(huán)境語(yǔ)言控制，免費(fèi)提供操作軟件，并提供維護(hù)及升級(jí)
提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)
頂視系統(tǒng)光學(xué)分辨率≤2微米
視場(chǎng)范圍從2mm*2mm到300um*300um可調(diào)，放大倍率從45倍到400倍機(jī)械可調(diào)
側(cè)視系統(tǒng)，提供可視化下針，可以通過(guò)電腦精確觀(guān)察控制下針過(guò)程，防止撞針
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