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多功能掃描探針顯微鏡（ScanningProbeMicroscope,SPM）是一類利用尖銳探針與樣品表面之間的相互作用進行成像和測量的高分辨率顯微鏡。SPM能夠在原子級別上觀察物質表面，廣泛應用于材料科學、納米技術、生命科學等領域。多功能掃描探針顯微鏡的工作原理：1.接觸力（ContactForce）：在探針與樣品直......

多功能原子力顯微鏡是一種具靈活性和功能性的表面分析工具，它能夠在納米尺度上對材料的表面形貌、力學性質、電學性質、磁性等多種物理化學性質進行綜合分析。AFM不僅在科學研究中發揮著重要作用，也在材料科學、生物學、半導體工業等領域找到了廣泛的應用。AFM的工作原理基于探針與樣品表面相互作用的力。當探針接近樣品表面時，它們之間......

多功能掃描探針顯微鏡（ScanningProbeMicroscopy,SPM）是一種高分辨率的成像技術，廣泛應用于物理、化學、生物和材料科學等領域。與傳統光學顯微鏡不同，SPM通過使用微小的探針與樣品表面相互作用來獲得圖像和其他物理性質。這種方法使其能夠在原子和分子尺度上進行觀察，極大地擴展了科學研究的視野。多功能掃描......

快速掃描探針顯微鏡是一種高級的顯微鏡技術，可以實現對樣品表面的原子級、納米級或更細小尺度的觀測和表征。通過將極細的探針移動在樣品表面，并測量探針與樣品之間的相互作用力來獲取圖像和數據。工作原理是通過在樣品表面移動微小的針狀探針，測量探針與樣品之間的相互作用力，從而實現對樣品表面的高分辨率成像。作為一種強大的顯微鏡技術，......